ОЦЕНКА НАДЕЖНОСТИ ЦИФРОВЫХ ИС ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ РАДИАЦИИ
Аннотация
Ключевые слова
Литература
1. Гретцер Г. Общая теория решеток. М.: Мир, 1982. 456 с.
2. Нечеткие множества и теория возможностей / Под ред. Р.Р.Ягера. М.: Радио и связь, 1986. 408 с.
3. Нечеткие множества в моделях управления и искусственного интеллекта/ Под ред. Д.А.Поспелова. М.: Наука, 1986. 312 с.
4. Денисенко В.В. Компактные модели МОП – транзисторов для SPICE в микро- и наноэлектронике.М.: ФИЗМАТЛИТ, 2010. – 408 с.
5. Барбашов В.М., Трушкин Н.С. Функционально-логическое моделирование качества функционирования ИС при воздействии радиационных и электромагнитных излучений// Микроэлектроника. 2009, том 38, № 1, с. 34-47.
6. Барбашов В.М. Моделирование функциональных отказов цифровых систем при воздействии радиации//Датчики и системы. – 2011. - № 6. – С. 29-34.
Ссылки
- На текущий момент ссылки отсутствуют.

Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.