ОЦЕНКА ПОКАЗАТЕЛЕЙ СТОЙКОСТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ТЯЖЕЛЫХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РАЗЛИЧНЫХ МОДЕЛЕЙ

А И Чумаков, В М Ужегов, О А Ахметов, Д В Бойченко, А В Яненко, Н В Рясной

Аннотация


В работе проводится оценка показателей стойкости интегральных схем (ИС) при воздействии тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) с использованием различных расчетных подходов. Показано, что наиболее консервативные оценки получаются в приближении тонкой чувствительной области. Предлагается подход к заданию требований по стойкости ИС при воздействии ТЗЧ, который основан на сравнении вероятностей отказов ИС, связанных с надёжностью, и отказов, возникающих в ИС при воздействии ТЗЧ в наиболее жестких условиях эксплуатации.

Ключевые слова


одиночные эффекты; показатели стойкости; параметры чувствительности

Полный текст:

PDF

Литература


1. Радиационная стойкость изделий ЭКБ: Научное издание / Под ред. А.И. Чумакова. М.:НИЯУ МИФИ, 2015.
2. Ионизирующее излучение космического пространства и их воздействие на бортовую аппаратуру космических аппаратов / Под ред. Г.Г. Райкунова. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2013.
3. Чумаков А.И. Действие космической радиации на ИС. М.: Радио и связь, 2004.
4. Petersen Ed. Single Event Effects in Aerospace.Wiley-IEEE Press, 2011.
5. РД В 319.03.24. Микросхемы интегральные. Методы испытаний и оценки стойкости больших и сверхбольших интегральных схем к одиночным сбоям от воздействия отдельных высокоэнергетичных тяжелых заряженных частиц и протонов космического пространства. Мытищи, 22 ЦНИИИ, 1996.
6. Tylka A.J., Adams J.H., Boberg P.R., Brownstein B., Dietrich W.F., Flueckiger E.O., Petersen E.L., Shea M.A., Smart D.F., Smith E.C. CREME96: A Revision of the Cosmic Ray Effects on Micro-Electronics Code. IEEE Trans. on Nuclear Science, Vol. 44, No.6, pp.2150-2160, Dec.1997.
7. Pickel J.C. Single-event effects rate prediction. IEEE Trans. Nucl. Sci. 43, 483-495 (1996).
8. Petersen E.L., Langworthy J. B., Diehl S.E. «Suggested Single Event Upset Figure of Merit». IEEE Trans. Nut.Sci., NS30, 6, pg. 4533 (1983).
9. Edmonds L.D. «SEU Cross Sections Derived for a Diffusion Analysis» // IEEE Trans. Nuc. Sci., NS-43, 3207, (1996).




DOI: http://dx.doi.org/10.26583/bit.2017.1.09

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.


Лицензия Creative Commons
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.